日本NOISEKEN諾伊茲半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6008
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產(chǎn)品名稱: 日本NOISEKEN諾伊茲半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6008
產(chǎn)品型號: ESS-6008
產(chǎn)品展商: 日本NOISEKEN諾伊茲
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
日本NOISEKEN諾伊茲半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6008
日本NOISEKEN諾伊茲半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6008
日本NOISEKEN諾伊茲半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6008
的詳細(xì)介紹
特征
考查實際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。
半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化，誤動作的現(xiàn)象。
對于此靜電破壞試驗，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型，機器帶電型的試驗。還有，可用選件中的精密型支架可對超細(xì)密間距元件做半自動的試驗。
*適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。
精密型支架
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可做*高輸出電壓±8KV 試驗（ESS-6008）
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可做出留有余量的試驗
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可對各種間距的受測元件進(jìn)行靜電施加試驗
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可搭配精密測臺，以半自動（Y 軸）的腳位移動而正確的對待
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測物施加靜電
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可做*低試驗電壓±10V 的試驗（ESS-6002）
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對于低電壓驅(qū)動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加
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可對應(yīng)規(guī)格
對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)
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人體模型試驗 (HBM)
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機械模型試驗 (MM)
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AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003
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AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003
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ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001
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ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
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IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002
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IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002
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IEC 60749-26 Ed.1.0 2003
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IEC 60749-27 Ed.1.0 2003
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JEDEC JESD22-A114E Jan 2007
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JEDEC JESD22-A115A Oct.1997
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JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304
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JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001
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MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989
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規(guī)格
半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器 (ESS-6002/ESS-6008)
項目
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功能/性能
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ESS-6002
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ESS-6008
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輸出電壓
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10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進(jìn)
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100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步進(jìn)
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輸出極性
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正或負(fù)
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重復(fù)周期
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0.3～99s±10％
到10s為止0.1s步進(jìn) 10s以后1s步進(jìn)
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放電次數(shù)
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1～99次/連續(xù)
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Automatic output voltage ramping
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Available
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尺寸
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（W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）
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尺寸
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約6kg
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簡易型探針臺 <18-00075A>
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項目
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功能/性能
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尺寸/重量（探針臺主機）
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(W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg
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尺寸/重量（簡易放電板）
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(W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/約200g
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鉗口尺寸
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110mm
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其他
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POM造V型部件1個 標(biāo)準(zhǔn)附件
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半自動精密型探針臺 <18-00076A>
由于半自動精密型探針臺的*小分辨率為0.01mm，所以可以簡單地對毫米間距和英寸間距等極小間距的半導(dǎo)體進(jìn)行試驗
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項目
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功能/性能
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尺寸/重量
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(W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg
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可對應(yīng)IC
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*大尺寸：40mm角 *小導(dǎo)線間距：0.4mm
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X軸
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手動 移動量：20mm ×燕尾槽、進(jìn)給螺桿
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Y軸
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電動（*大速度：13mm/s）移動量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步進(jìn)馬達(dá)&滾珠螺桿
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θ軸
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手動 移動量：360°
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Z axis
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手動 移動量：20mm *內(nèi)置彈簧下壓式
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回原點
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手動
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